logo
Thuis Productenniet destructief het testen materiaal

HXRF-450S XRF coating thickness tester met SDD detector

Certificaat
CHINA HUATEC  GROUP  CORPORATION certificaten
CHINA HUATEC  GROUP  CORPORATION certificaten
Klantenoverzichten
breed scala van NDT producten, kunnen we allemaal in huatec groep. Wij liever kopen van hen. Rudolf Shteinman, Rusland

—— Rudolf Shteinman

Ik houd van de dienst, zeer snelle reactie, het professionele werk. Aret Turkije

—— Aret Kaya

huatec Hardheidstestapparaten, zeer goede kwaliteit, we zijn zeer tevreden met de draagbare Hardheidstestapparaten RHL-50. Kumaren Govender Sotuth Afrika

—— Kumaren Govender

Ik ben online Chatten Nu

HXRF-450S XRF coating thickness tester met SDD detector

HXRF-450S XRF coating thickness tester met SDD detector
HXRF-450S XRF coating thickness tester met SDD detector HXRF-450S XRF coating thickness tester met SDD detector

Grote Afbeelding :  HXRF-450S XRF coating thickness tester met SDD detector

Productdetails:
Plaats van herkomst: China
Merknaam: HUATEC
Certificering: CE
Modelnummer: HXRF-450S
Betalen & Verzenden Algemene voorwaarden:
Min. bestelaantal: 1 stuk
Prijs: USD14145/set - USD15990/set
Verpakking Details: Doos
Levertijd: 10-15 werkdagen na ontvangstbewijs van uw betaling
Betalingscondities: T/T, PayPal
Levering vermogen: 5sets/month

HXRF-450S XRF coating thickness tester met SDD detector

beschrijving
Meetbereik element:: Aluminium (Al) - uranium (U) Detector: SDD
Test time: 10-40s Buisstroom: 0-1mA ((programmabeheerd)
Hoge druk: 0-50kV (Programma-gestuurd) Vergroting: Optica: 40-60 ×
Inlaatspanning:: AC220V ± 10% 50/60HZ
Markeren:

XRF-coatingsdikte tester

,

Röntgenfluorescentieverfmeter

,

niet-destructieve coatingsdikte-analysator

HXRF-450S XRF X-ray Fluorescentie Coating Verf Dikte Tester
Product Specificaties
Attribuut Waarde
Meetbereik elementen Aluminium (Al) - uranium (U)
Detector SDD
Testtijd 10-40s
Buisstroom 0-1mA (Programma-gestuurd)
Hoge druk 0-50kV (Programma-gestuurd)
Vergroting Optiek: 40-60×
Ingangsspanning AC220V±10% 50/60HZ
Productoverzicht

De HXRF-450S XRF X-ray Fluorescentie Coating Verf Dikte Tester is een hoogwaardig instrument ontworpen voor precieze coatingdiktemetingen en materiaalanalyses in diverse industrieën.

Werkomstandigheden
  • Bedrijfstemperatuur: 15-30℃
  • Relatieve vochtigheid: 40%~50%
  • Voeding: AC: 220V ± 5V
Technische Prestaties
  • Uitstekende langetermijnstabiliteit met minimale kalibratievereisten
  • Geen monsterbereiding nodig voor coatingsystemen, vaste of vloeibare monsters
  • Uitgebreide prestaties, waaronder coatinganalyse, kwalitatieve/kwantitatieve analyse, badanalyse en statistische functies
Toepassingen

Ideaal voor elektronische componenten, halfgeleiders, PCB, FPC, LED-beugels, auto-onderdelen, functionele plating, decoratieve onderdelen, connectoren, terminals, sanitair, sieraden en andere industrieën voor oppervlaktecoatingdiktemetingen en materiaalanalyses.

Veiligheidskenmerken
  • Eenvoudige gebruikersinterface met beperkte operatorautorisatie
  • Mogelijkheden voor toezichthoudend onderhoud
  • Automatische operatorgebruiksrecords
  • Automatische vergrendeling ter voorkoming van ongeoorloofde bediening
  • Deursensor monsterkamer
  • Waarschuwingslampje voor röntgenstraling
  • Beveiligingsknoppen op het voorpaneel
Belangrijkste Kenmerken
  • Meet tot 5 lagen (4 coating + substraat) tegelijkertijd
  • Analyseert 15 elementen met automatische spectraallijncorrectie
  • Hoge meetnauwkeurigheid (tot μin) met uitstekende stabiliteit
  • Snelle niet-destructieve meting (zo snel als 10s)
  • Analyseert vaste stoffen en oplossingen met kwalitatieve, semi-kwantitatieve en kwantitatieve mogelijkheden
  • Materiaalidentificatie en classificatiedetectie
  • Uitgebreide gegevensstatistieken (gemiddelde, standaarddeviatie, etc.)
  • Meerdere uitvoeropties (afdrukken, PDF, Excel) met uitgebreide rapportage
  • Voorbeeld van meetpositie met 30× optische vergroting
  • Wereldwijde service en technische ondersteuning
Technische Parameters
Parameter Specificatie
Meetbereik elementen Aluminium (Al) - uranium (U)
Detector SDD
Collimatortypes Vast enkel gat (0,15 mm, 0,2 mm, 0,5 mm)
Optisch padsysteem Verticale bestraling
Vergroting Optiek: 40-60×
Weergavemodi Elementenspectrum, labelpatroon, elementen en meetwaarden
Camera High-definition industriële camera met lokale vergroting
Toepassingen Enkele/dubbele coating, legeringscoating, galvaniseeroplossing
Ingangsspanning AC220V±10% 50/60HZ
Communicatie Hoge snelheid USB-overdracht
Afmetingen 555*573*573mm (410*478*245mm holte)
Röntgenbron Zeer nauwkeurige micro-focuserende lichtbuis (W Target)
Softwarefuncties FP-algoritme, automatische foutdiagnose/correctie, automatische compensatie
Standaardconfiguratie
SDD halfgeleiderdetector
  • Elektrisch gekoelde SDD halfgeleiderdetector
  • Resolutie: 129 ± 5 EV
  • Versterkingscircuitmodule voor detectie van karakteristieke X-stralen van het monster
X-ray Excitation Device
  • Maximale filamentstroomuitgang: 1mA
  • Semi-verliescomponent, 50W, luchtkoeling
Hoogspanningszender
  • Maximale spanningsuitgang: 50kV
  • Minimaal 5kV regelbare aanpassing
  • Ingebouwde overspanningsbeveiliging
HXRF-450S XRF coating thickness tester met SDD detector 0 HXRF-450S XRF coating thickness tester met SDD detector 1

Contactgegevens
HUATEC GROUP CORPORATION

Contactpersoon: Ms. Shifen Yuan

Tel.: 8610 82921131,8618610328618

Fax: 86-10-82916893

Direct Stuur uw aanvraag naar ons (0 / 3000)