|
Productdetails:
|
| Frequentiebereik: | 10 Hz ~ 15 MHz | Winst -aanpassingsbereik: | 0~90dB, minimale stap 0,5 dB |
|---|---|---|---|
| Aantal kanalen: | 64 Kanaal | Digitale filtering: | 1~100 |
| Voorwinst: | 10~35dB | Hoogdoorlaatfiltering: | 0~500Hz |
| Laagdoorlaatfiltering: | 10Hz~10KHz | Amplitude- en fasemeting: | Automatisch/handmatig |
| Markeren: | Testapparatuur voor wervelstroom met meerdere frequenties,Testapparatuur voor lucht- en ruimtevaart NDT,Petrochemische wervelstroommeter |
||
HEF-2501 Multi-Frequency Array Eddy Current Testing Equipment voor Luchtvaart & Petrochemie
De HEF-2501 array eddy current detector is een array multi-frequentie eddy current detector. Het kan defecten in metalen materialen in realtime en effectief detecteren, legeringstypes, warmtebehandelingscondities en dikteveranderingen onderscheiden, enz. De testresultaten verkregen door het combineren van meerdere detectiemethoden kunnen de uitgebreide data-analyse en wederzijdse verificatie door de inspecteurs vergemakkelijken, waardoor een objectievere en waarheidsgetrouwere evaluatie wordt verkregen. Het is bijzonder geschikt voor niet-destructieve testen vóór en tijdens gebruik in sectoren zoals luchtvaart, ruimtevaart, energie, nucleaire techniek, metallurgie, scheepvaart, petrochemie en auto's.
I. Functiebeschrijving
• 64-kanaals array eddy current testen
• Niet-directionele lasnaadinspectie
• Unieke functie voor detectie van scheurdiepte;
• Impedantie vlakdiagram, tijdgebaseerd scan diagram weergave, tijdgebaseerd overlappende weergave, array eddy current scanning II (B/C), en driedimensionale beeldvormingsweergave functies;
• Hoge definitie en hoge gevoeligheid;
• Eenvoudige bediening, met zowel Chinese als Engelse bedieningsinterfaces (optioneel);
• De data-acquisitie van de C-scan weergave kan defecten snel en effectief detecteren en lokaliseren.
• Ondersteunt meting van pijpwanddikte-afname, detectie en dieptemeting van oppervlakte defecten, meting van de dikte van oppervlaktecoatings en platinglagen van metalen materialen, en sortering van diverse metalen materialen en hardheid.
• Het heeft 32 uitgebreide verwerkingseenheden (mixing): in staat om gelijktijdig meerdere groepen interferentiesignalen te scheiden of te onderdrukken;
• Meerdere filtermethoden
• Diverse datastorage methoden
• Het heeft de functie van multi-frequentie detectie configuratie analyse
• Het slaat detectieparameters en gegevens op, en kan rapporten exporteren in PDF, EXCEL, WORD, etc.
• Het kan de signaalgolfvorm van het gehele detectieproces opslaan/reproduceren
• Het is uitgerust met een ingebouwde lithiumbatterij en kan continu werken voor meer dan 6 uur
二,Prestatie-index
|
Item |
Prestatie-index |
|
Aantal links |
2 stuks |
|
Aantal kanalen |
64 Kanaal |
|
Probe interface type |
LEMO Interface |
|
Frequentie |
4 |
|
Frequentie bereik |
10Hz~15MHz |
|
Versterkingsbereik |
0~90dB,Minimale stap 0.5 dB |
|
Impedantie vlak |
32 stuks |
|
Automatische mengunit |
32 stuks |
|
Hoogdoorlaatfiltering |
0~500Hz |
|
Laagdoorlaatfiltering |
10Hz~10KHz |
|
Digitale filtering |
1~100 |
|
Voorversterking |
10~35dB |
|
Aansturing |
Niveau 8 |
|
Amplitude- en fase meting |
Automatisch/Handmatig |
|
Lay-out weergave |
Impedantie vlakdiagram, tijdgebaseerde scan curve weergave, A-scan weergave |
|
Alarmmodus |
Halffase alarm/fase alarm/box alarm |
|
Alarm uitgangssignaal |
Transistor OC gate output |
|
Balansmodus |
Digitale elektronische balans |
|
Filtermethode |
drie typen: hoogdoorlaat, laagdoorlaat en digitale filtering |
|
Weergavemodus |
Punt/lijn/vervaging kan de maximale scheurdiepte weergeven en de scheurdiepte in realtime tonen |
|
Probe kalibratie |
Het heeft de functie om de golfvorm van het fundamentele frequentiesignaal vóór detectie weer te geven met schaalmarkeringen. Het heeft de functie van sensor zelfdiagnose |
|
Bidirectionele versterkingsverhouding(Y/X) |
0.1 tot 10/0.1 tot 10, waarbij X en Y afzonderlijk kunnen worden ingesteld |
|
Kalibratiecurve |
Defectdiepte (dikte) - amplitude /Y amplitude/fase curve kalibratiefunctie |
|
Uitgebreide functie |
Herhalen, analyseren en opslaan van het eddy current detectiesignaal |
|
Data-analyse |
Genereert automatisch inspectierapporten, inclusief inspectie-informatie, defectsignalen, locatie, datum, personeel en andere inspectieparameters |
|
Data-opslag en -beheer |
1. Het systeem kan het impedantie tijdgebaseerde diagram van lokale defectsignalen, het golfvormbestand van defectsignalen en de bijbehorende parameterconfiguratie tijdens het testen opslaan. 2. Het systeem kan de gegevens van elke detectiegolfvorm in realtime opslaan en herhalen, en de opgeslagen signaalgolfvormen analyseren. 3. Het systeem is uitgerust met een geheugenkaart, die de on-site detectiegegevens naar het laboratorium kan brengen voor analyse, wat de opslag vergemakkelijkt. |
|
Mens-machine interactie |
Het systeem kan signalen handmatig scheiden en classificeren om karakteristieke parameters zoals amplitude en fase van verschillende signaaltypen te verkrijgen. 2. Het systeem kan de faseverschuiving van verschillende signalen handmatig corrigeren. 3. Het systeem heeft de functie om de amplitude van het standaard sample signaal te kalibreren. 4. Het systeem kan de duur van de data-acquisitie instellen. |
|
Afmetingen, gewicht |
292×214×69mm; 2.7 kg |
|
Werktemperatuurbereik |
-20℃ ~ +55℃ |
|
Externe voeding |
Adapter: DC19V, oplaadbare lithiumbatterij (14.8V 5.7AH) |
三,Configuratie lijst
|
SN. |
Naam |
Model specificatie |
Hoeveelheid |
Eenheid |
Opmerkingen |
|
1 |
Array eddy current detector |
HEF-2501 |
1 |
stuk |
|
|
2 |
laptop |
D e l l |
1 |
stuk |
|
|
3 |
32-kanaals array probe |
Op maat gemaakt |
1 |
stuk |
Niet-directionele detectie probe |
|
4 |
Pen-type probe |
EPB2.JO.20 |
1 |
stuk |
|
|
5 |
Gebogen pen-type probe |
EPB2W.JO.20 |
1 |
stuk |
|
|
6 |
Rand probe |
EPD1.CO.10 |
1 |
stuk |
|
|
7 |
Array testblok |
Roestvrij staal |
1 |
stuk |
|
|
8 |
Vergelijk de testblokken |
staal |
1 |
stuk |
|
|
9 |
Array eddy current adapterkabel |
LEMO16 kern -LEMO19 kern |
1 |
stuk |
|
|
10 |
Communicatiekabel |
Netwerkkabel |
1 |
stuk |
Super Categorie 5 |
|
11 |
Voedingsadapter |
DC-19V |
1 |
stuk |
|
|
12 |
Instrumentkoffer |
|
1 |
stuk |
|
|
13 |
Product Kwaliteitscertificaat |
|
1 |
stuk |
|
|
14 |
Kwaliteitsgarantie Certificaat |
|
1 |
stuk |
|
|
15 |
Kwaliteitsfeedback formulier |
|
1 |
stuk |
|
|
16 |
Instrument Gebruiksaanwijzing |
|
1 |
stuk |
|
|
17 |
Systeem software back-up |
Engels/USB flash drive |
1 |
stuk |
|
![]()
Contactpersoon: Ms. Shifen Yuan
Tel.: 8610 82921131,8618610328618
Fax: 86-10-82916893