logo
Thuis Productenniet destructief het testen materiaal

HXRF-450S High Stability X-ray Fluorescence Coating Thickness Spectrometer

Certificaat
CHINA HUATEC  GROUP  CORPORATION certificaten
CHINA HUATEC  GROUP  CORPORATION certificaten
Klantenoverzichten
breed scala van NDT producten, kunnen we allemaal in huatec groep. Wij liever kopen van hen. Rudolf Shteinman, Rusland

—— Rudolf Shteinman

Ik houd van de dienst, zeer snelle reactie, het professionele werk. Aret Turkije

—— Aret Kaya

huatec Hardheidstestapparaten, zeer goede kwaliteit, we zijn zeer tevreden met de draagbare Hardheidstestapparaten RHL-50. Kumaren Govender Sotuth Afrika

—— Kumaren Govender

Ik ben online Chatten Nu

HXRF-450S High Stability X-ray Fluorescence Coating Thickness Spectrometer

HXRF-450S High Stability X-ray Fluorescence Coating Thickness Spectrometer
HXRF-450S High Stability X-ray Fluorescence Coating Thickness Spectrometer HXRF-450S High Stability X-ray Fluorescence Coating Thickness Spectrometer

Grote Afbeelding :  HXRF-450S High Stability X-ray Fluorescence Coating Thickness Spectrometer

Productdetails:
Plaats van herkomst: China
Merknaam: HUATEC
Certificering: CE
Modelnummer: HXRF-450S
Betalen & Verzenden Algemene voorwaarden:
Min. bestelaantal: 1 st
Prijs: USD14145/set - USD15990/set
Verpakking Details: Kartonnen verpakking
Levertijd: 10-15 werkdagen na ontvangst van uw betaling
Betalingscondities: T/T, Paypal
Levering vermogen: 5sets/maand

HXRF-450S High Stability X-ray Fluorescence Coating Thickness Spectrometer

beschrijving
Meetbereik element:: Aluminium (Al) - uranium (U) Detector: SDD
Testtijd: 10-40s Buisstroom: 0-1mA ((programmabeheerd)
Hoge druk: 0-50kV (Programma-gestuurd) Vergroting: Optica: 40-60 ×
Ingangsspanning:: AC220V ± 10% 50/60 Hz
Markeren:

Röntgenfluorescentiecoatingsdiktemeter

,

XRF-spectrometer met hoge stabiliteit

,

niet-destructieve coatingsdikte-analysator

HXRF-450S Hoge stabiliteit röntgenfluorescentie laagdikte spectrometer
Productspecificaties
Attribuut Waarde
Meetelementbereik Aluminium (Al) - uranium (U)
Detector SDD
Testtijd 10-40s
Buisstroom 0-1mA (programmagestuurd)
Hoge druk 0-50kV (programmagestuurd)
Vergroting Optiek: 40-60×
Ingangsspanning AC220V ± 10% 50/60 Hz
Productoverzicht

De HXRF-450S XRF röntgenfluorescentielaagdiktetester is een krachtig instrument dat is ontworpen voor nauwkeurige laagdiktemetingen en materiaalanalyse in verschillende industrieën.

Arbeidsomstandigheden
  • Bedrijfstemperatuur: 15-30℃
  • Relatieve vochtigheid: 40%~50%
  • Voeding: AC: 220V ± 5V
Technische prestaties
  • Uitstekende stabiliteit op lange termijn met minimale kalibratievereisten
  • Geen monstervoorbereiding nodig voor coatingsystemen, vaste of vloeibare monsters
  • Uitgebreide prestaties, waaronder coatinganalyse, kwalitatieve/kwantitatieve analyse, badanalyse en statistische functies
Toepassingen

Ideaal voor elektronische componenten, halfgeleiders, PCB's, FPC, LED-beugels, auto-onderdelen, functionele beplating, decoratieve onderdelen, connectoren, terminals, sanitair, sieraden en andere industrieën voor het meten van de dikte van de oppervlaktelaag en materiaalanalyse.

Veiligheidsvoorzieningen
  • Eenvoudige gebruikersinterface met beperkte operatorautorisatie
  • Toezichthouder onderhoudsmogelijkheden
  • Automatische operatorgebruiksregistraties
  • Automatische vergrendeling ter voorkoming van ongeoorloofde bediening
  • Deursensor monsterkamer
  • Röntgenwaarschuwingslicht
  • Beveiligingsknoppen op het voorpaneel
Belangrijkste kenmerken
  • Meet tot 5 lagen (4 coating + substraat) gelijktijdig
  • Analyseert 15 elementen met automatische spectraallijncorrectie
  • Hoge meetnauwkeurigheid (tot μin) met uitstekende stabiliteit
  • Snelle niet-destructieve meting (zo snel als 10s)
  • Analyseert vaste stoffen en oplossingen met kwalitatieve, semi-kwantitatieve en kwantitatieve mogelijkheden
  • Materiaalidentificatie en classificatiedetectie
  • Uitgebreide gegevensstatistieken (gemiddelde, standaarddeviatie, etc.)
  • Meerdere uitvoeropties (print, PDF, Excel) met uitgebreide rapportage
  • Voorbeeld van meetpositie met 30× optische vergroting
  • Wereldwijde service en technische ondersteuning
Technische parameters
Parameter Specificatie
Meetelementbereik Aluminium (Al) - uranium (U)
Detector SDD
Collimator-typen Vast enkel gat (0,15 mm, 0,2 mm, 0,5 mm)
Optisch padsysteem Verticale bestraling
Vergroting Optiek: 40-60×
Weergavemodi Elementair spectrum, labelpatroon, elementen en meetwaarden
Camera High-definition industriële camera met lokale vergroting
Toepassingen Enkele/dubbele coating, legeringscoating, galvanische oplossing
Ingangsspanning AC220V ± 10% 50/60 Hz
Mededeling Snelle USB-transmissie
Afmetingen 555*573*573mm (410*478*245mm holte)
Röntgenbron Zeer nauwkeurige micro-focusserende lichtbuis (W Target)
Softwarefuncties FP-algoritme, automatische foutdiagnose/correctie, automatische compensatie
Standaardconfiguratie
SDD halfgeleiderdetector
  • Elektrisch gekoelde SDD-halfgeleiderdetector
  • Resolutie: 129 ± 5 LW
  • Versterkingscircuitmodule voor monsterkarakteristieke röntgendetectie
Röntgen-excitatieapparaat
  • Maximale gloeistroomuitgang: 1mA
  • Semi-verliescomponent, 50W, luchtkoeling
Hogedrukzender
  • Maximale uitgangsspanning: 50 kV
  • Minimaal 5kV regelbare afstelling
  • Op zichzelf staande bescherming tegen overbelasting
HXRF-450S High Stability X-ray Fluorescence Coating Thickness Spectrometer 0 HXRF-450S High Stability X-ray Fluorescence Coating Thickness Spectrometer 1

Contactgegevens
HUATEC GROUP CORPORATION

Contactpersoon: Ms. Shifen Yuan

Tel.: 8610 82921131,8618610328618

Fax: 86-10-82916893

Direct Stuur uw aanvraag naar ons (0 / 3000)