logo
Thuis Productenniet destructief het testen materiaal

HXRF-450S Energiedispersieve Röntgenspectrometer Laagdikte-analysator

Certificaat
CHINA HUATEC  GROUP  CORPORATION certificaten
CHINA HUATEC  GROUP  CORPORATION certificaten
Klantenoverzichten
breed scala van NDT producten, kunnen we allemaal in huatec groep. Wij liever kopen van hen. Rudolf Shteinman, Rusland

—— Rudolf Shteinman

Ik houd van de dienst, zeer snelle reactie, het professionele werk. Aret Turkije

—— Aret Kaya

huatec Hardheidstestapparaten, zeer goede kwaliteit, we zijn zeer tevreden met de draagbare Hardheidstestapparaten RHL-50. Kumaren Govender Sotuth Afrika

—— Kumaren Govender

Ik ben online Chatten Nu

HXRF-450S Energiedispersieve Röntgenspectrometer Laagdikte-analysator

HXRF-450S Energiedispersieve Röntgenspectrometer Laagdikte-analysator
HXRF-450S Energiedispersieve Röntgenspectrometer Laagdikte-analysator HXRF-450S Energiedispersieve Röntgenspectrometer Laagdikte-analysator

Grote Afbeelding :  HXRF-450S Energiedispersieve Röntgenspectrometer Laagdikte-analysator

Productdetails:
Plaats van herkomst: China
Merknaam: HUATEC
Certificering: CE
Modelnummer: HXRF-450S
Betalen & Verzenden Algemene voorwaarden:
Min. bestelaantal: 1 st
Prijs: USD14145/set - USD15990/set
Verpakking Details: Kartonnen verpakking
Levertijd: 10-15 werkdagen na ontvangst van uw betaling
Betalingscondities: T/T, Paypal
Levering vermogen: 5sets/maand

HXRF-450S Energiedispersieve Röntgenspectrometer Laagdikte-analysator

beschrijving
Meetbereik element:: Aluminium (Al) - uranium (U) Detector: SDD
Testtijd: 10-40s Buisstroom: 0-1mA ((programmabeheerd)
Hoge druk: 0-50kV (Programma-gestuurd) Vergroting: Optica: 40-60 ×
Ingangsspanning:: AC220V ± 10% 50/60 Hz
Markeren:

Röntgenfluorescentiespectrometer laaganalyzer

,

EDXRF laagdiktemeting

,

niet-destructieve röntgenspectrometer analyzer

HXRF-450S Energie-dispersieve Röntgenspectrometer voor Laagdikteanalyse
Productspecificaties
Attribuut Waarde
Meetbereik elementen Aluminium (Al) - Uranium (U)
Detector SDD
Testtijd 10-40s
Buizenstroom 0-1mA (Programmagestuurd)
Hoogspanning 0-50kV (Programmagestuurd)
Vergroting Optiek: 40-60x
Ingangsspanning AC220V±10% 50/60HZ
Productoverzicht

De HXRF-450S XRF Röntgenspectrometer voor Laagdikteanalyse is een hoogwaardig instrument ontworpen voor nauwkeurige meting van laagdikte en materiaal analyse in diverse industrieën.

Werkomstandigheden
  • Bedrijfstemperatuur: 15-30°C
  • Relatieve vochtigheid: 40%~50%
  • Voeding: AC: 220V ± 5V
Technische prestaties
  • Uitstekende stabiliteit op lange termijn met minimale kalibratievereisten
  • Geen monster voorbereiding nodig voor coatingsystemen, vaste of vloeibare monsters
  • Uitgebreide prestaties inclusief coating analyse, kwalitatieve/kwantitatieve analyse, bad analyse en statistische functies
Toepassingen

Ideaal voor elektronische componenten, halfgeleiders, PCB, FPC, LED-beugels, auto-onderdelen, functionele plating, decoratieve onderdelen, connectoren, terminals, sanitair, sieraden en andere industrieën voor meting van oppervlakte laagdikte en materiaal analyse.

Veiligheidsvoorzieningen
  • Eenvoudige gebruikersinterface met beperkte operator autorisatie
  • Onderhoudsmogelijkheden voor supervisors
  • Automatische gebruiksrecords van operators
  • Automatisch vergrendelen ter voorkoming van ongeautoriseerde bediening
  • Deur sensor monsterkamer
  • Röntgen waarschuwingslampje
  • Beveiligingsknoppen op het voorpaneel
Belangrijkste kenmerken
  • Meet tot 5 lagen (4 coatings + substraat) tegelijkertijd
  • Analyseert 15 elementen met automatische correctie van spectraallijnen
  • Hoge meetnauwkeurigheid (tot µin) met uitstekende stabiliteit
  • Snelle niet-destructieve meting (zo snel als 10s)
  • Analyseert vaste stoffen en oplossingen met kwalitatieve, semi-kwantitatieve en kwantitatieve mogelijkheden
  • Materiaalkenmerken en classificatie detectie
  • Uitgebreide data statistieken (gemiddelde, standaardafwijking, etc.)
  • Meerdere uitvoeropties (print, PDF, Excel) met uitgebreide rapportage
  • Voorbeeld van meetpositie met 30x optische vergroting
  • Wereldwijde service en technische ondersteuning
Technische parameters
Parameter Specificatie
Meetbereik elementen Aluminium (Al) - Uranium (U)
Detector SDD
Type collimator Vaste enkele opening (0.15mm, 0.2mm, 0.5mm)
Optisch pad systeem Verticale bestraling
Vergroting Optiek: 40-60x
Weergavemodi Elementenspectrum, labelpatroon, elementen en meetwaarden
Camera High-definition industriële camera met lokale vergroting
Toepassingen Enkele/dubbele coating, legeringscoating, galvanische oplossing
Ingangsspanning AC220V±10% 50/60HZ
Communicatie Hoge-snelheid USB-transmissie
Afmetingen 555*573*573mm (410*478*245mm holte)
Röntgenbron Hoge-precisie micro-focus lichtbuis (W Target)
Softwarefuncties FP-algoritme, automatische foutdiagnose/correctie, automatische compensatie
Standaard configuratie
SDD Halfgeleider Detector
  • Elektrisch gekoelde SDD halfgeleider detector
  • Resolutie: 129 ± 5 EV
  • Versterkingscircuitmodule voor detectie van karakteristieke röntgenstraling van het monster
Röntgenexcitatieapparaat
  • Maximale filamentstroom output: 1mA
  • Semi-loss component, 50W, luchtkoeling
Hoogspanningszender
  • Maximale spanningsoutput: 50kV
  • Minimaal 5kV regelbare aanpassing
  • Ingebouwde spanningsbeveiliging tegen overbelasting
HXRF-450S Energiedispersieve Röntgenspectrometer Laagdikte-analysator 0 HXRF-450S Energiedispersieve Röntgenspectrometer Laagdikte-analysator 1

Contactgegevens
HUATEC GROUP CORPORATION

Contactpersoon: Ms. Shifen Yuan

Tel.: 8610 82921131,8618610328618

Fax: 86-10-82916893

Direct Stuur uw aanvraag naar ons (0 / 3000)