logo
Vraag een offerte aan |
Thuis Productenniet destructief het testen materiaal

DR-paneel en niet-destructief testen Lichtgewicht draadloze detector op basis van amorf silicium (a-Si)

Alle producten

niet destructief het testen materiaal

(2073)

Ultrasone Fout Detector

(129)

X-Ray Fout Detector

(158)

x-ray pijpleidingskruippakje

(20)

Magnetisch Deeltje het Testen Materiaal

(219)

Wervelstroom het Testen Materiaal

(34)

De Kijker van de radiografiefilm

(19)

Ultrasone Kaliberbepalingsblokken

(50)

ultrasone sonde

(22)

Straling Controleapparaten

(24)

Lood het Intensifiëren de Schermen

(7)

Draadtype Penetrameter

(6)

Laagdiktemeter

(109)

hardheid het testen machine

(169)

draagbare oppervlakteruwheid tester

(45)

metallographic materiaal

(31)

Draagbare trillingen Meter

(67)
Beste Producten
Digitale trillingskalibrator

Digitale trillingskalibrator

Certificaat
CHINA HUATEC GROUP CORPORATION certificaten
CHINA HUATEC GROUP CORPORATION certificaten
Klantenoverzichten
breed scala van NDT producten, kunnen we allemaal in huatec groep. Wij liever kopen van hen. Rudolf Shteinman, Rusland

—— Rudolf Shteinman

Ik houd van de dienst, zeer snelle reactie, het professionele werk. Aret Turkije

—— Aret Kaya

huatec Hardheidstestapparaten, zeer goede kwaliteit, we zijn zeer tevreden met de draagbare Hardheidstestapparaten RHL-50. Kumaren Govender Sotuth Afrika

—— Kumaren Govender

Ik ben online Chatten Nu

DR-paneel en niet-destructief testen Lichtgewicht draadloze detector op basis van amorf silicium (a-Si)

DR-paneel en niet-destructief testen Lichtgewicht draadloze detector op basis van amorf silicium (a-Si)
DR-paneel en niet-destructief testen Lichtgewicht draadloze detector op basis van amorf silicium (a-Si) DR-paneel en niet-destructief testen Lichtgewicht draadloze detector op basis van amorf silicium (a-Si) DR-paneel en niet-destructief testen Lichtgewicht draadloze detector op basis van amorf silicium (a-Si) DR-paneel en niet-destructief testen Lichtgewicht draadloze detector op basis van amorf silicium (a-Si)

Grote Afbeelding :  DR-paneel en niet-destructief testen Lichtgewicht draadloze detector op basis van amorf silicium (a-Si)

Productdetails:
Plaats van herkomst: China
Merknaam: HUATEC
Certificering: ISO,CE
Modelnummer: H4343DA
Betalen & Verzenden Algemene voorwaarden:
Min. bestelaantal: 1 st
Verpakking Details: In kartonnen doos
Levertijd: 7-10 dagen na betaling
Levering vermogen: 50 stuks per maand
Contact

DR-paneel en niet-destructief testen Lichtgewicht draadloze detector op basis van amorf silicium (a-Si)

beschrijving
Productnaam: DR-paneel Model: H4343DA
Adapter in: AC 100-240V,50-60Hz actief gebied: 430 x 430 mm
Markeren:

Draadloze detector op DR-paneel

,

Niet-destructieve testen met amorfe siliciumdetector

,

Lichte draadloze NDT-apparatuur

DR-paneel en niet-destructieve testen Lichte draadloze detector op basis van amorfe silicium ((a-Si)


Sensor

Receptortype a-Si
Scintillator Gecontracteerde diensten
Actief gebied 430 x 430 mm
Resolutie 3072 x 3072
Pixel Pitch 139 μm


Stroomvoorziening en batterij

Adapter in  AC 100-240V,50-60Hz
Adapter uit gelijkstroom 24 V,2.7A 
Machtverlies < 20 W


Beeldkwaliteit

Beperking van de resolutie 3.5 LP/mm
Energiebereik 40-160 KV 
Dynamisch bereik ≥84 dB
Gevoeligheid   ≥0.54 LSB/nGy 
Ghos < 1% 1e kader
DQE            42% @ ((1 LP/mm)
28% @(2 LP/mm)
MTF's            68% @(1 LP/mm)
38% @(2 LP/mm)
20% @(3 LP/mm)


Elektrische onderdelen en interface
A/D-omrekening              16 bits

Gegevensinterface                Gigabit Ethernet

Framerate                     1x1 4fps/2x2 15fps/3x3 25fps

Beheersing van blootstelling            Free Run/SYNC Acquire

 

Mechanische apparatuur
Afmeting                       460 × 460 × 14,8 mm
Gewicht                             30,8 kg

Materiaal                           Aluminium- en magnesiumlegeringen

Voorpaneel                     koolstofvezels

 

Milieuzaken

Temperatuur                   10-35°C (operationeel);-10~50°C (opslag)

Vochtigheid                          30-70% RH (niet-condenserende)

Ingangsbescherming                 IP51

DR-paneel en niet-destructief testen Lichtgewicht draadloze detector op basis van amorf silicium (a-Si)


label:

Niet destructieve het Testen Machine,

NDT het Testen Materiaal,

ndt inspectiehulpmiddelen

Contactgegevens
HUATEC GROUP CORPORATION

Contactpersoon: Ms. Shifen Yuan

Tel.: 8610 82921131,8618610328618

Fax: 86-10-82916893

Direct Stuur uw aanvraag naar ons (0 / 3000)

Over

X-Ray Fout Detector

Xxq-2005 de draagbare Detector van het Röntgenstraalgebrek voor lasinspectie met anti - blokkerend

Industriële Echte de Kijkerscomputer van de Röntgenstraalfilm - het Systeem van de tijdradiografie

Mini de Generatorbuis van de Glasröntgenstraal voor NDT de Toebehoren van de Gebrekdetector

Ultrasone Kaliberbepalingsblokken

De ultrasone Gebrekdetector/UT-de Kaliberbepaling het Type DIN 54-120 BS2704 blokkeren van IIW V1 (A2)

IIW v-2 A4 75mm x 43mm x 12.5mm Ultrasoon Kaliberbepalingsblok/ultrasone testblokken

10 - de kaliberbepalingsblok van de Stapwig voor dikte en lineariteitkaliberbepaling

LAAT BERICHT ACHTER

Privacybeleid | CHINA Goed Kwaliteit niet destructief het testen materiaal Leverancier. © 2016 - 2026 HUATEC GROUP CORPORATION. All Rights Reserved.