|
Productdetails:
|
| Display: | 2, 4-inch IPS / 320X240 dot matrix | Parameter: | Ra, Rz, Rq, Rt, Rmax, Rc Rp, Rv, R3z, R3y, Rz(JIS) Ry(JIS), Rs, Rsk, Rku, Rsm Rmr, RPc, Rk, Rpk, Rvk, Mr1 Mr2 |
|---|---|---|---|
| Filter: | RC, PC-RC, Gauss ,D-P | Measurement Range: | 160μm (Z axis), 17.5mm/0.69" (X axis) |
| Markeren: | Kleur Display Oppervlakte Ruwheidstester,hoogprecisie ruwheidstester,Bluetooth-verbinding Draagbaar ruwheidsinstrument |
||
Parameter
Specificatie
Model
SRT-6630
Meetbereik (Z-as)
160 μm
Meetbereik (X-as)
17.5mm / 0.69"
Afbeelding
2.4 inch IPS / 320 * 240 dot matrix
Resolutie
00,001 μm/±20 μm
00,004 μm/±80 μm
Gemeten parameters
Ra, Rz, Rq, Rt, Rmax, Rc, Rp, Rv, R3z, R3y, Rz(JIS), Ry(JIS), Rs, Rsk, Rku, Rsm, Rmr, RPc, Rk, Rpk, Rvk, Mr1, Mr2
Normen
ISO4287, ANSI B46.1, DIN4768, JIS B601
Grafiek
Primair profiel, Ruwheidsprofiel, Belastingscurves
Filters
RC, PC-RC, Gauss, DP
Monstername-lengte (lr)
0.25, 0.8, 2,5 mm
Beoordelingstermijn (ln)
ln = lr * n (n=1~5)
Sensorprincipe
Verplaatsingsdifferentiële inductantie
Stylus
Natuurlijke diamant, hoek 90°/60°, puntradius 2μm/5μm
Styluskracht
0.75mN/4mN
Verplaatsingsmateriaal
Hard legering, lengteradius 40 mm
Oversteek snelheid
lr=0.25: Vt=0,135 mm/s
lr=0.8: Vt=0,5 mm/s
lr=2.5: Vt=1 mm/s
Verkeer: Vt=1 mm/s
Precisiteit
± ((5nm + 0,1A) waarbij A is Ra van het kalibratieproefblok
Herhaalbaarheid
≤ 3%
Restprofiel
≤ 0,010 μm
Stroomvoorziening
Ingebouwde 3,7V lithium-ion batterij, DC5V-oplader (800mA/3 uur)
Afmetingen (L*W*H)
155 x 63,5 x 46 mm
Gewicht
Ongeveer 300 g
Operatieomgeving
Temperatuur: -20°C tot 40°C, luchtvochtigheid: < 90% RH
Opberging en vervoer
Temperatuur: -40°C tot 60°C, luchtvochtigheid: < 90% RH
Contactpersoon: Ms. Shifen Yuan
Tel.: 8610 82921131,8618610328618
Fax: 86-10-82916893